시험 항목 | 테스트 조건 | |
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환경 테스트 | 열 충격 | 100 ℃ : 5 분, 0 ℃ : 5 분, 10 사이클 |
온도 사이클 | -40 ℃ (60 분) ~ 125 ℃ (60 분), 10 사이클 | |
진동 | 10-500Hz/15 분, 10G, 6 시간 | |
말단 강도 (인장) | 9.8-40N, 10 ± 1 초 2.2 ± 0.1n, 30 초 |
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솔더 내열성 | [조건 1] 260 ℃, 10 + 2/-0 초, 또는 [조건 2] 270 ℃, 7 + 2/-0 초, 또는 [조건 3] 350 ° C, 3.5 ± 0.5 초 |
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Solderability | [조건 1] 235 ± 5 ℃, 5 ± 0.5 초, 또는 [조건 2] 245 ± 5 ℃, 5 ± 0.5 초 |
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강화 강도 (조임 토크) | M8 : 8.83 ~ 10.8n ・ m, 10 ± 1 초 M6 : 2.94-4.5n ・ m, 10 ± 1 초 M5 : 1.96 ~ 3.5n ・ m, 10 ± 1 초 M4 : 1.47 ~ 1.7n ・ m, 10 ± 1 초 M3 : 0.98n ・ m, 10 ± 1 초 |
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내구성 테스트 | 고온 저장 | ta= 125 ℃, 1000 시간 |
냉장 | ta= -40 ℃, 1000 시간 | |
습기 저항성 | [조건 1] ta= 60 ℃, RH = 90%, 1000 시간 또는 [조건 2] ta= 85 ℃, RH = 85%, 1000 시간 |
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고온 리버스 바이어스 | ta= 125 ℃, vCE= 최대 정격 전압 x 0.85 V, Vge= 0V, 1000 시간 | |
고온 게이트 바이어스 | ta= 125 ℃, vCE= 0V, Vge= 20V, 1000 시간 | |
중단 테스트 | △ tC= 50 ℃ (△ tJ= 100 ℃), 5000 사이클 |
모델 이름 | |
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IGBT 모듈 T 시리즈 NX 유형 | |
IGBT 모듈 T 시리즈 LV100 유형 | |
HVIGBT 모듈 X 시리즈 | |
전체 SIC Ultra-Small DipiPM | |
Slimdip | |
Ultra-Small Dipipm Ver.7 | |
작은 dipipm ver.7 | |
큰 DipiPM ver.6 | |
큰 dipipm+ | |
자동차 IGBT 모듈 J1 시리즈 |